针对 WipWare Solo 和 Reflex 自动化测量系统常见问题的解答,包括粒度分析、安装、筛分校准、维护、集成和技术支持。.
WipWare 系统可自动测量材料尺寸和其他可见特征,以帮助操作人员监控变异性、评估工艺性能并做出更明智的决策。.
| 独奏 | 反射 | |
| 主要应用 | 输送机和生产线监控 | 车辆装载和卸载监测 |
| 基本配置 | 最大粒径或颜色 | 最大粒径或颜色 |
| 完整配置 | PSD、形状、体积和颜色 | PSD、形状和颜色 |
| 测量方法 | 对运动中的材料进行重复采样 | 与车辆载荷相关的自动测量 |
| 典型应用 | 破碎、筛分、研磨和物料搬运 | 装载、运输、接收和破碎机给料监测 |
如需了解完整的产品信息,请访问 梭式输送机分析系统 或者 反射车分析系统.
跳转至:
系统概述
Solo 和 Reflex 有什么区别?
Solo 可测量传送带或生产线上移动的物料,提供重复测量,用于持续监控和过程控制。.
Reflex 设备用于测量与车辆载荷相关的物料,例如运输卡车、装载机或其他车辆。它通常安装在接收或卸货地点,用于在物料进入下一加工阶段之前对其进行特性分析。.
这两个系统都采用光学分析来测量材料特性,但它们的设计目的是为了以不同的方式呈现和处理材料。.
基础系统和完整系统有什么区别?
基本系统可对最大粒径或颜色进行重点监测。.
完整的系统可提供完整的粒度分布 (PSD) 测量、颗粒形状和颜色信息。Solo Complete 还提供物料体积估算。.
合适的配置取决于操作所需的信息。仅用于识别超大尺寸材料的系统可能不需要 Complete 提供的额外测量功能。.
基础版系统可以升级到完整版吗?
是的. Solo 6 和 Reflex 6 使用通用的硬件平台,因此基本系统无需更换主要测量硬件即可升级到完整系统。.
请联系 WipWare 获取升级选项和许可信息。.
Solo 和 Reflex 模式是否需要单独订阅 WipFrag?
不。. WipFrag 提供用于配置 Solo 和 Reflex 以及与它们交互的界面,所需的系统功能包含在硬件系统中。.
只有在连接系统之外使用 WipFrag 进行独立图像分析时,才需要单独购买 WipFrag 年度订阅或 WipWare 分析积分。.
参见 WipFrag 常见问题解答 有关软件订阅和分析积分的信息。.
WipWare系统可以自动运行吗?
是的. Solo 和 Reflex 设计为安装配置完成后即可自主运行。.
它们可以收集和分析材料测量数据,而无需操作员手动处理每张图像。.
可以通过 WipFrag 查看结果,或连接到工厂系统以进行趋势分析、报警和过程控制应用。.
WipWare自动化系统适用于哪些行业?
Solo 和 Reflex 主要用于采矿和骨料行业,但它们的应用范围也扩展到其他处理颗粒状或碎片状材料的行业。.
例如矿物加工、采石、水泥生产、林产品、农产品、颗粒及其他散装物料加工。.
重要的考虑因素是材料和操作条件是否允许系统获取对预期应用有用的测量数据。.
测量与分析
Solo 和 Reflex 可以测量什么?
根据系统配置,测量内容可以包括:
- 最大粒径和超大粒径。.
- 粒度分布(PSD)。.
- 通过或保留在指定粒径范围内的百分比。.
- 颗粒形状特征。.
- 颜色和可见的材料差异。.
- 预计材料体积(Solo Complete)。.
可测量的指标取决于基本配置或完整配置以及所选的分析设置。.
什么是粒度分布(PSD)?
粒度分布描述了材料在不同粒径范围内的分布情况。.
可以用累积百分比通过曲线、单个尺寸等级或百分位数测量(如 D50、D80 和 D95)来表示。.
例如,D80 表示报告分布中约有 80% 落在的粒径小于该粒径。.
PSD 测量可以帮助操作人员评估破碎性能、监控工艺进料、识别物料状况的变化,并比较不同加工阶段的结果。.
更多信息请参见 了解 P80 在破碎和物料处理中的作用.
这些系统多久分析一次材料?
Solo Basic 通常每秒提供一次新的最大尺寸或颜色测量值。.
Solo Complete 大约每四秒钟进行一次更全面的分析。.
反射测量是根据车辆或物料搬运应用触发的,而不是仅仅按照固定的传送带采样间隔运行。.
重复的自动测量可以提供持续的过程信息,但这并不一定意味着经过测量位置的每个粒子都会被单独分析。.
WipWare系统能否检测超大尺寸的材料?
是的. 最大尺寸监测可以识别超过设定尺寸阈值的可见颗粒,前提是这些颗粒可以在摄像机的视野范围内可靠地测量。.
根据系统配置和集成情况,结果可用于生成警报或其他控制信号。.
适当的阈值应反映下游设备的要求,例如破碎机开口、筛孔尺寸或物料处理限制。.
Solo 或 Reflex 能否检测出异物或污染物?
不, 并非直接测量颗粒物。WipWare系统测量颗粒物的大小、形状、体积(在支持的情况下)和颜色。它们并非专用的异物检测器或化学分析仪。.
如果一个外观独特的物体或材料暴露在相机前,并且与周围的材料明显不同,那么它可能会产生不寻常的尺寸、形状或颜色测量结果。.
然而,该系统无法可靠地识别埋藏物体,也无法根据物体的外观确定材料的化学成分。.
涉及金属杂质或特定异物检测的应用可能需要专用检测设备。.
颜色分析的工作原理是什么?
颜色分析根据预设的颜色配置文件评估可见材料。.
根据系统配置,这可以帮助监控材料外观的变化,区分视觉上不同的材料组,或识别不寻常的颜色趋势。.
颜色测量可以提供有用的过程指标,但它们并不能独立确定矿物等级、化学成分或污染情况。.
Solo是如何测量物料体积的?
Solo Complete 利用物料深度信息以及输送机的几何形状和运动情况来估算物料体积和体积流量。.
该系统可在运行过程中将空皮带参考值与物料深度进行比较,以支持这些计算。.
体积信息可以帮助操作人员研究物料流量和粒度分布之间的关系。.
如果能够获得材料密度或重量计信息,这些测量结果也可以用于更广泛的工艺计算。.
Solo 并非旨在取代专用的体积扫描仪或经过认证的称重系统,以用于需要这些功能的场合。.
WipWare系统能否测量隐藏在较大颗粒下方的细小颗粒?
不,, 不能直接测量。光学系统只能测量相机可见的物质。.
较小的颗粒可能被较大的颗粒遮挡,或者太小而无法在现有图像分辨率下分辨。.
在适当情况下,筛分校准可以从数学上解释图像衍生测量与包含完整材料分布的代表性物理样品之间的差异。.
但是,校准并不能让相机直接观察到隐藏的粒子。.
决定系统能够测量的最小和最大颗粒尺寸的因素是什么?
可测量的颗粒尺寸范围取决于相机分辨率、视野、镜头选择、安装几何形状、材料呈现方式和图像质量。.
更宽的视野范围更大,但会降低较小颗粒的图像细节。更窄的视野范围可以提高细节清晰度,但会限制测量区域。.
没有适用于所有安装情况的单一最小或最大颗粒尺寸标准。.
看 了解输送带分析中的尺寸范围 举例说明。.
WipWare测量结果与物理筛分分析相比准确度如何?
光学测量与物理筛分的一致性取决于材料、粒径范围、图像质量、采样方法和校准。.
由于光学测量是基于可见颗粒,而物理筛分是根据质量评估收集到的材料,因此它们的结果可能有所不同。.
使用代表性样本进行特定地点的比较是建立两种方法之间关系的最有效方法。.
也就是说,几十年来,WipWare 技术已被用于数十项经过同行评审的真实世界碎片化和粉碎研究中。.
WipWare 不建议假设每种材料和安装都具有通用的百分比精度。.
筛分校准
Solo 和 Reflex 是否需要筛分校准?
不, 不一定。.
当需要图像衍生的粒度分布与实验室筛分结果更紧密地对应时,筛分校准就很有用。.
然而,许多应用仅需持续监测相对粒径变化或直接检测最大粒径。这些方法无需筛分校准即可提供有用的信息。.
对于仅配置为最大尺寸或颜色监控的系统,完整的 PSD 筛分校准通常无关紧要。.
筛分校准是如何进行的?
该过程包括拍摄代表性材料的图像,收集匹配的物理样本,并将图像导出的 PSD 与实验室筛分结果进行比较。.
WipFrag 的校准工具允许操作员输入实验室筛分值,并使用 Rosin-Rammler 或 Swebrec 分布模型评估数学调整。.
然后将选定的参数应用于自动化系统。.
详细解释请参见 系统筛分校准:光学分析与实验室结果的匹配.
实验室需要提供哪些校准信息?
实验室应提供筛孔尺寸、每个筛子上保留的重量以及累计通过率。.
所选筛系列应涵盖材料的相关粒径范围,包括较大的粒径和关键的工艺控制阈值。.
公认的试验筛标准包括 ASTM E11 和 ISO 3310-1.
实验室或过程控制部门应确定适用于该应用的标准和筛系列。.
系统应该多久重新校准一次?
没有统一的重新校准周期。.
如果相机位置、图像比例、照明、分析设置、材料特性或操作条件发生重大变化,则应重新检查校准情况。.
定期与具有代表性的物理样品进行比较,有助于确定现有的校准是否仍然适用。.
稳定的工艺流程可能不需要频繁的重新校准,而材料或安装条件的变化则可能需要更频繁的检查。.
安装和调试
WipWare需要哪些信息才能推荐系统?
WipWare 通常需要有关材料、测量目标和拟议安装环境的信息。.
有用信息包括:
- 材料类型和预期粒径范围。.
- 输送机尺寸或车辆类型。.
- 安装位置和可用安装空间。.
- 材料速度、装载和呈现。.
- 光照、灰尘、天气和其他环境条件。.
- 可用的电力和网络基础设施。.
- 所需测量、报警和集成输出。.
- 材料及拟建地点的代表性照片。.
这些信息有助于确定合适的设备配置和安装方法。.
安装Solo系统需要哪些条件?
Solo 安装需要合适的安装位置、稳定的摄像头和照明装置、电源、用于配置和集成的网络连接,以及清晰的物料流视野。.
安装还必须提供足够的通道,以便进行调试、维护和任何必要的物理取样。.
具体的安装几何形状取决于输送机的尺寸、颗粒大小、物料负载和测量目标。.
Reflex系统应该安装在哪里?
Reflex 通常安装在可以持续测量车辆的地方,例如卡车卸货场、接收区或其他合适的车辆处理地点。.
摄像机的位置应确保在预定的测量过程中能够清晰地看到材料。.
在应用设计过程中,应考虑车辆运动、排放几何形状、环境条件以及识别或触发信号的获取。.
为什么 Solo 需要伞盖?
遮篷有助于减少阳光直射、阴影变化、天气和空气中的灰尘的影响,从而创造更稳定的成像条件。.
稳定的照明非常重要,因为亮度和阴影的变化会影响粒子识别。.
所需的遮蔽量取决于安装环境。室外场所和阳光照射角度变化较大的区域通常比稳定的室内环境需要更严格的环境控制。.
客户可以自行安装WipWare系统吗?
是的,, 通常情况下,根据安装情况,客户的工程或维护团队可以使用 WipWare 的文档完成物理安装、布线和其他安装工作。.
WipWare还可以提供安装和调试方面的帮助。.
安装方案应在项目规划阶段确定,尤其是在有特殊安装、电气、网络或安全要求的情况下。.
系统调试过程中会发生什么?
调试通常包括:
- 验证电源、网络连接和系统通信。.
- 检查相机对焦、曝光和光线。.
- 建立图像比例和测量几何。.
- 配置分析配置文件、大小类别和输出。.
- 检查触发器和材料检测设置。.
- 在正常运行条件下测试系统。.
- 必要时进行筛分校准或实物样品比较。.
- 检查数据集成情况并培训操作人员。.
在认为调试完成之前,应该使用具有代表性的生产材料对系统进行评估。.
数据、集成和自动化
我如何查看测量结果?
WipFrag 提供了一个界面,用于查看系统测量、分析结果、粒度分布和可用趋势信息。.
显示的信息取决于系统配置和所选的输出变量。.
Solo 和 Reflex 可以导出测量数据吗?
是的。. WipWare 系统支持 CSV 数据输出,可用于报告和历史分析。.
可用字段取决于系统配置,可能包括时间戳、粒度测量值、用户定义的尺寸等级、颜色或形状信息以及其他相关的系统值。.
调试期间应审查所需的数据字段和报告安排。.
WipWare系统能否与PLC或SCADA系统通信?
是的。. Solo 和 Reflex 通过以下方式支持工业集成 Modbus TCP 和 OPC UA.
这些协议允许兼容的控制系统接收配置的测量值,用于监控、趋势分析、报警和过程控制应用。.
应与客户的控制或自动化团队审查集成要求,以确定必要的数据点和通信安排。.
该系统能否触发警报或自动操作?
是的. 根据配置的不同,测量值可以通过外部 PLC 或其他兼容设备用于支持报警和控制操作。.
例如,当尺寸超过阈值或材料特性超出预期操作范围时,通知操作员。.
WipWare 还提供控制硬件,适用于需要更简单的基于继电器的操作的应用。.
控制策略和对每个警报的响应应由客户负责的工程人员制定和验证。.
Reflex测量结果能否与单个卡车或货物关联?
是的, 其中,安装提供适当的标识或外部数据。.
通过与调度、PLC、数据库或其他现场系统的集成,可以将 Reflex 结果与车辆或货物信息关联起来。.
具体方法取决于客户的基础设施和测量地点可用的信号。.
Solo 和 Reflex 是否需要持续的网络连接?
不. WipWare系统专为自主本地测量而设计。.
正常分析并不一定需要持续的互联网连接。但是,配置、远程支持、数据传输或连接到其他工厂系统可能需要网络访问。.
每个安装项目都需要确认所需的网络配置。.
运行和维护
Solo需要停下来分析物料吗?
不。. Solo 的设计目的是在传送带运行过程中测量物料。.
根据批准的现场程序,输送机可能需要停止运行,以便进行某些调试、物理取样、安装或维护活动。.
正常的自动图像分析不需要传送带停止运转。.
WipWare系统需要哪些定期维护?
主要的日常维护要求是保持摄像机观察区域和照明设备无过多灰尘、污垢和其他障碍物。.
还应定期检查系统是否存在物理损坏、部件松动、照明问题以及可能影响测量质量的变化。.
维护频率取决于安装环境。灰尘较多的传输点可能比清洁、封闭的环境需要更频繁的维护。.
清洁或检查系统时,请遵循当前的设备维护说明和现场安全规程。.
相机可以用清水或压缩空气清洗吗?
是的。. 清洁方法应遵循已安装设备及其防护罩的建议。.
避免使用研磨性清洁方法、施加过大压力,或任何可能损坏光学窗口、密封件、电气元件或照明设备的程序。.
不要以为每个系统组件都可以安全地用高压水枪清洗或暴露在不受限制的水流下。.
如果不确定合适的清洁方法,请联系 WipWare 技术支持。.
这些系统能否在多尘或室外环境下运行?
是的, WipWare 系统专为工业环境而设计,包括采矿和散装物料处理应用。.
但是,性能取决于适当的设备保护、照明、安装和维护。.
空气中过多的灰尘、物质堆积、阳光变化或光学元件被遮挡都会降低图像质量并影响测量结果。.
应用设计阶段应考虑场地条件。.
故障排除
为什么我的粒度测量结果不一致?
首先,确定是材料本身发生了变化,还是图像质量下降了。.
可能的原因包括:
- 光照或曝光变化。.
- 光学窗口上的灰尘或积垢。.
- 镜头移动或图像比例改变。.
- 物料装载或呈现方式的变化。.
- 分析设置不正确。.
- 与原始调试条件存在显著差异的材料。.
在调整配置之前,请查看实时图像和最近的分析结果。.
为什么系统检测不到更小的颗粒?
较小的颗粒可能占据的像素不足以被可靠地区分,或者它们可能被隐藏在较大的物质下面。.
检查视野、对焦、材料呈现方式和相机分辨率。.
如果应用需要比现有安装方式能够可靠提供的更精细的测量,则可能需要不同的相机配置或测量位置。.
筛分校准可以根据物理参考值调整报告的 PSD,但不能提高相机的光学分辨率。.
为什么我的结果与实验室筛分结果不同?
光学筛分和物理筛分采用不同的方法,可能代表材料的不同部分。.
差异可能是由于采样、颗粒重叠、隐藏的细颗粒、校准、颗粒形状或图像与物理样本之间不恰当的比较造成的。.
确保参考样品与图像分析所用材料相同,并检查筛分校准是否合适。.
参见 系统筛校准指南 更多详情请见下文。.
如果系统停止发送数据,我应该检查什么?
检查系统是否已通电并正常运行,并验证相关的网络连接。.
确认接收 PLC、SCADA 系统或其他数据目的地可访问,并且其通信设置未发生更改。.
查看系统界面以获取可用的状态或诊断信息。.
如果无法恢复通信,请联系 WipWare 技术支持,并提供系统标识、问题描述以及任何相关的错误消息。.
如果在调试完成后材料或工艺发生变化怎么办?
评估现有测量配置是否仍然适用。.
材料尺寸、颜色、负载或呈现方式的变化可能会影响图像质量、分析性能或现有筛分校准的有效性。.
重大变化可能需要更新分析方案、修改测量设置,或与物理参考样品进行另一次比较。.
支持和服务
WipWare提供哪些技术服务?
WipWare 提供系统安装、调试、校准、故障排除、软件配置、数据集成、维护和培训方面的技术支持。.
根据所需工作和客户所在地,服务可以远程提供,也可以现场提供。.
是否提供远程技术支持?
是的. WipWare 可以为许多软件、通信、配置和故障排除问题提供远程协助。.
在客户的 IT 和安全策略允许的情况下,远程访问系统可以帮助技术人员更有效地诊断问题。.
如有需要,可安排现场服务和项目特定的调试支持。.
Solo和Reflex是否提供培训?
是的。. WipWare 在系统调试和支持过程中提供操作员和技术培训。.
培训通常包括访问系统、查看分析结果、了解测量设置以及识别可能影响性能的条件。.
可根据客户要求安排额外培训。.
哪里可以找到系统手册和技术文档?
当前产品信息、安装资源、手册和技术文档可通过 WipWare 获取。 产品文件 权限取决于文档和客户帐户。.
如需实际调试或校准方面的帮助,请参阅已安装系统提供的文档或联系 WipWare 技术支持。.
WipWare 的保修政策是什么?
WipWare 根据所购设备和协议的适用条款,为制造商缺陷提供一年有限保修服务。.
有关承保范围、除外责任、服务安排和保修索赔的详细信息,请参阅您收到的 WipWare 有限保修文件或联系 WipWare。.
如需更全面地了解自动化测量在采矿和加工作业中的应用,请浏览以下内容: 从爆破到选矿:利用破碎数据提高采矿效率.
因为你无法管理你无法衡量的东西!