光学粒度仪行业领导者
我们的光分析系统通过防止设备停机，提高生产率，增强人员健康和安全性以及优化流程，帮助全球公司节省了数百万美元。
它是如何开始的
WipWare 在加拿大安大略省滑铁卢大学发明了光学粒度测定法，并创建了 WIEP（滑铁卢图像增强过程），后来改名为 WipFrag。 1986 年 WipFrag 的商业推出使公司成为碎片材料光学粒度测定的行业领导者。
从DOS到iOS
像其他长期存在的行业标准软件包一样，今天的WipFrag与原始祖先几乎没有相似之处。
最初的 WipFrag 是一个命令行应用程序，可以通过软盘在 DOS 上运行。当时，即使将小图像导入计算机也是一项挑战。最新版本可在 iOS 设备、Android 设备和 Windows 桌面上运行以分析您的图像。这些图像可以使用我们的自动缩放功能使用 iPad、iPhone 或 Android 设备拍摄，也可以从其他相机设备导入。
认识我们的团队
世界最大的光分析设备和技术供应商
WipWare pioneered the proprietary image-based particle size analysis software in 1986 and have continued to utilize advances in technology to deliver cutting edge products & results to our customers. We listen to our customers and design our products to meet their industry requirements.
您有兴趣加入我们的技术团队吗？
我们正在寻找合格的人加入我们的技术团队。我们拥有超过 25 年的经验，并且一直在寻找新的和创新的方法来改进我们的技术。迈出职业生涯的下一步。
“因为你无法管理
你无法衡量的！”
该声明总结了我们的关键信念，即如果您不了解您现有的流程性能，就很难知道如何改进它。我们的光分析系统为任何行业的公司提供了收集材料详细测量结果并做出明智决策的机会。
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