结果解读指南

1. 从WipFrag图表开始

分析完成后，WipFrag 会将测量到的粒子转换为一组描述结果的数据集。 粒度分布（PSD） 以及被分析材料的其他特性。.

可以配置图表，使其显示对应用程序最有用的信息。.

先从问题开始

在解读单个数字之前，请先问自己：  我试图根据这个结果做出什么决定？

例如：

• 材料比预期的更粗糙还是更细？
• 有多少百分比的材料低于工艺限值？
• 有多少材料的尺寸超过了超尺寸阈值？
• 分布是变得越来越均匀还是越来越不均匀？
• 与之前的样本相比，功率谱密度（PSD）是否发生了变化？
• 结果是否符合操作规范？
• 颗粒形状是否发生变化？
• 大颗粒物是否集中在特定区域？
• 用户自定义的颜色比例是否发生变化？

不同的WipFrag结果描述了材料的不同方面。很少有单一数值能够全面反映材料的特性。.

记住

结合应用情况解读结果。. 粒径分布更窄、更大、更窄或更宽并不一定更好。真正有用的结果是满足工艺或研究要求的结果。.

2. 读取粒度分布曲线

粒度分布（PSD）曲线显示了颗粒尺寸在分析材料中的分布情况。.

横轴代表颗粒大小，纵轴代表 累计通过率 — 小于选定尺寸的材料百分比。.

例如，如果曲线显示 ~25% 通过 100 毫米处:

• 所分析的材料中，约有 25% 的尺寸小于 100 毫米；
• 大约 75% 大于 100 毫米。.

大于选定尺寸的百分比也可以描述为 累计保留百分比. 通过和保留是互补的：  约25%通过100毫米 = 约75%保留在100毫米以上

不要混淆 累计保留率 和 保留类别 直方图中的值。累计保留量包括大于所选尺寸的所有材料，而类别保留量仅描述位于特定尺寸区间内的材料。.

从任一方向读取曲线

你可以用两种方式使用这条曲线。.

先从百分比开始

如果想知道与特定百分位数对应的粒径，请从百分比向右读取曲线，然后向下读取粒径轴。.

这就是D50和D80等数值的解释方式。.

首先选择一个尺寸

如果您已经有一个有意义的尺寸，例如筛孔尺寸、破碎机进料目标尺寸、超大尺寸限制、产品规格或实验室筛尺寸，请在横轴上找到该尺寸，然后向上读取曲线。.

相应的百分比表示被分析材料中有多少小于该尺寸。.

了解粒度轴

颗粒尺寸分布通常涵盖非常大的尺寸范围，因此 WipFrag 会绘制用户定义的尺寸等级。 对数尺度 使较小和较大的颗粒在同一张图表中可见。.

在对数尺寸轴上，图表上的等距并不代表颗粒尺寸的数值增加相等。.

例如，10 毫米到 20 毫米的视觉距离与 10 毫米到 20 毫米的线性尺的解释方式不同，可以显示逐渐增大的尺寸范围，而不会将较小的颗粒压缩到图表的一端。.

比较颗粒大小时，应使用坐标轴标签和测量值，而不是仅凭视觉距离。.

比较整条曲线

D 值是有用的概括，但两个分布可能具有相似的 D50 或 D80 值，而在其他方面则有所不同。.

比较结果时，请查看：

• 结局；;
• 分布的中间位置；;
• 粗糙的一端；以及
• 曲线的整体形状。.

两条曲线的分岔点与单个统计数据之间的差异一样有用。.

3. 理解D值

WipFrag 使用以下符号报告百分位数大小 DXX. D 后面的数字表示小于报告尺寸的材料百分比。.

例如：

• D10：  10% 的材料比这个尺寸小。.
• D50：  50% 材料的粒径较小，而 50% 材料的粒径较大。.
• D80：  80% 材料较小，20% 材料较大。.
• D95：  95% 材料较小，5% 材料较大。.

这些数值为粒度分布提供了方便的参考点。.

D50

D50是 50% 通过尺寸 它代表了粒径分布的中点或中位数。.

它适用于：

• 比较不同样本的总体规模；;
• 追踪物料的粗细变化；
• 概括分布的中心位置。.

D50 不应被解释为算术平均粒径。.

D80

D80是 80% 通过尺寸. 它在采矿、骨料、破碎、研磨和碎裂研究中被广泛应用，因为它提供了一种有用的粗粒度分布测量方法，而不仅仅受最大颗粒的控制。.

使用D80可以：

• 比较样本间的碎片化程度；;
• 随着时间的推移，赛道发生了变化；;
• 将物料尺寸与下游加工联系起来；
• 将结果与既定的操作目标进行比较。.

较高百分位数

例如价值观 D90 和 D95 逐步描述粗颗粒端的情况。这些值在需要处理大颗粒或超大尺寸颗粒时非常有用，但它们也很大程度上取决于所采集的样品是否能充分代表较大的材料。.

因此，应结合采样方法和原始图像来解释高百分位值。.

重要的

D值描述的是分布情况，但它并不能解释造成这种分布的原因。. 例如，D80 值的变化表明物料粒度分布发生了变化。要确定其原因，需要相关的操作、地质、工艺或爆破信息。.

4. 了解WipFrag统计数据

WipFrag 数据框可以显示选定的统计信息以及 PSD。.

并非所有统计数据都需要用于所有应用场景。.

粒子

粒子数是指分析中测量的粒子数量。.

将此值用作结果的背景信息，而不是将其本身作为性能目标。.

颗粒数量越多并不一定意味着分析结果越好。颗粒仍然需要满足以下条件：

• 可见的;
• 正确勾勒；;
• 比例合适；以及
• 具有被取样材料的代表性。.

覆盖范围

覆盖率是指图像区域中可分析材料的百分比。.

覆盖率可以帮助描述图像中有多少部分对分析做出了贡献。.

它应该被视为辅助诊断结果，而不是粒度分析结果。.

球形

WipFrag 的球形度值根据颗粒长度和宽度之间的关系来描述颗粒形状。.

数值越高表示图像中的颗粒越接近等轴状，数值越低表示颗粒越细长。.

利用球形性可以：

• 比较样品间颗粒形状；;
• 识别材料形状的变化；;
• 研究颗粒形状对处理或加工行为的影响；
• 当仅凭尺寸无法完全描述材质时，请使用 PSD 文件进行补充。.

球形度描述了 图像中可见二维粒子形状. 不应将其解释为对粒子形态的完整三维测量。.

罗辛-拉姆勒统计数据

WipFrag 可以使用 Rosin-Rammler 模型描述颗粒尺寸分布。.

Xc – 特征尺寸

Xc 是 Rosin-Rammler 特征尺寸。.

在 WipFrag 中：  在进行任何校准之前，Xc = D63.2。.

这意味着 63.2% 的材料小于 Xc 值。.

Xc 为比较分布提供了另一个有用的参考尺寸。.

n 均匀系数

n 描述了罗辛-拉姆勒分布的均匀性。.

更高的 n 表明粒径分布更窄、更均匀。.

较低的 n 表明分布范围更广，包含更宽的粒径范围。.

使用 n 当分布范围很重要时，而不仅仅是看整体材料是粗糙的还是精细的。.

在 WipFrag 中：  n = 均匀系数 前 未应用任何校准。.

例子

两个样本可能具有相似的D50值，但彼此之间却可能存在很大差异。 n 价值观。. 其中一种可能含有集中在中等粒径附近的颗粒，而另一种则含有更广泛的细颗粒和粗颗粒混合物。.

Swebrec 统计数据

WipFrag 还可以使用 Swebrec 模型来描述分布。.

X50

X50 是 Swebrec 50% 的通过尺寸。.

在 WipFrag 中：  X50 = D50 前 未应用任何校准。.

Xmax

Xmax 代表 Swebrec 分布使用的最大粒径，对应于分析中测量的最大颗粒。.

解释 Xmax 当罕见的超大颗粒至关重要时，务必谨慎。结果只能代表采样图像中包含并正确测量的较大颗粒。.

在 WipFrag 中：  Xmax = 最大粒径 前 未应用任何校准。.

b

b 是 Swebrec 曲线波动参数。.

它有助于描述拟合的 Swebrec 分布的形状。.

与D值不同，, b 通常情况下，作为拟合分布的一部分或在比较一致生成的结果时最为有用，而不是作为独立的运行目标。.

在 WipFrag 中：  b = 曲线波动参数 前 未应用任何校准。.

5. 阅读直方图和尺寸等级

PSD曲线显示的是累积分布，而直方图则显示了…… 将材料分成各个尺寸等级 提供对该材料的不同视角。.

WipFrag 支持多达 25 个尺寸类别，可以根据应用程序关注的尺寸进行配置。.

查看各个尺码等级

观察直方图的形状

不要只盯着最高的吧台看。.

考虑：

• 物质集中分布的位置：  哪些尺寸等级的保留比例最大？.
• 分布宽度：  较窄的聚集区域表示材料集中在较小的尺寸范围内，而较宽的直方图则表示尺寸混合范围更广。.
• 细尾和粗尾：  即使延伸到直方图两端的材料并不主导分布，它们也可能很重要。.

理想的直方图形状取决于具体应用。分布范围广并不一定意味着效果差，分布范围窄也并不一定意味着效果好。.

选择有意义的尺寸等级

在实际可行的情况下，应围绕实际运行限制来定义尺寸等级，例如：

• 屏幕开口；;
• 破碎机或工艺阈值；;
• 产品规格；;
• 超限限制；;
• 实验室筛孔尺寸；或
• 其他有意义的控制点。.

尺寸等级应尽可能代表实际决策点，而不是任意区间。.

6. 使用规格范围

这 规格范围 允许将目标范围直接放置在 WipFrag PSD 图表上。.

为什么要使用信封？

规范范围将解释提升到以下层面：  “这种材料是更细的还是更粗的？”

并朝着：  “这种分布是否符合所需的运行范围？”

当应用程序存在已知限制时，请使用此功能：

• 产品尺寸；;
• 破碎机进料；;
• 筛查；;
• 爆炸碎片；;
• 过程控制；或
• 质量保证。.

解读整个信封

结果可能在分布的某个部分达到目标，而在其他部分则达不到目标。.

观察曲线离开包络线的位置。.

这表明差异主要集中在以下方面：

• 更精细的材料；;
• 分布的中间位置；或
• 粗糙的材料。.

记住

规格范围由用户定义。. WipFrag 会告诉你结果是否符合你输入的限制；它不会确定正确的运行限制应该是什么。.

7. 目测检查颗粒大小

PSD 曲线和直方图概括了测量的粒径分布，但 WipFrag 还提供了工具，可以将这些结果以可视化的方式与分析的图像联系起来。.

使用编辑助手可以：

• 找出单个过大颗粒或大于规定尺寸的颗粒；;
• 区分孤立的超大尺寸和普遍的粗大尺寸分布；;
• 确定源图像中最大测量颗粒出现的位置；
• 检查这些粒子是否已被正确界定。.

色块

WipFrag 还可以根据测量到的颗粒大小为其着色。较大的颗粒显示为逐渐变暖（偏红）的颜色，而较小的颗粒则显示为较冷（偏蓝）的颜色。.

色块可以帮助您：

• 观察图像中粗细物质的分布情况；;
• 找出含有较大颗粒的区域；;
• 找出值得进一步审查的领域；;
• 将功率谱密度和直方图与源图像关联起来；
• 目测检查测量尺寸模式是否合理。.

色块也是一种视觉解读辅助工具。它们不能取代功率谱密度曲线、直方图或数值尺寸结果。.

8. 解读颗粒形状和颜色结果

通过分布实现球形度

除了整体球形度统计之外，WipFrag 还可以通过直方图显示球形度标记。.

这些图显示了所测量粒径范围内颗粒形状的明显变化。.

这有助于回答以下问题：

• 较大的颗粒是否比较小的颗粒更细长？
• 颗粒形状是否随尺寸变化？
• 工艺变更是否同时影响了尺寸和形状？

将球形度信息与直方图和 PSD 结合使用，而不是将其视为单独的质量评分。.

所需的形状取决于应用场景。球形度越高并非一定越好。.

颜色标识

在分析过程中配置颜色 ID 后，WipFrag 可以报告与用户定义的颜色配置文件匹配的材料百分比。.

最多可以定义两个颜色 ID。.

当颜色本身在应用程序中是一种有用的视觉区分符时，请使用颜色 ID。.

例如：

• 视觉上不同的材料类型；;
• 污染;
• 稀释;
• 产品颜色差异；或
• 其他用户自定义颜色类别。.

颜色 ID 是 颜色匹配测量. 除非针对特定应用单独确定了颜色关系，否则不应将其解释为化学、矿物学或物体鉴定。.

9. 合并和比较结果

一张图像通常只代表更大样本的一部分。如果拍摄多张图像作为代表性样本，则…… 相同物质群体, WipFrag 可以将分析结果合并成一个合并结果。.

何时合并

当有意收集多个分析结果以表示以下情况时，合并结果：

• 一次爆炸；;
• 一堆；;
• 一个库存；;
• 一个实验室样本；;
• 一个生产周期；或
• 另一个已定义的样本人群。.

合并后的结果提供了比仅使用一张图像更宽的 PSD 范围。.

何时不应合并

不要仅仅因为样本可用就合并样本。如果目的是进行比较，则应将分析结果分开：

• 不同的爆炸；;
• 不同的运行条件；;
• 不同的材料类型；;
• 不同的工艺阶段；;
• 不同的地质区域；或
• 不同的时间段。.

否则，你试图观察到的差异可能会消失在合并分布中。.

进行同类比较

在追踪变化时，应尽可能保持采样和分析方法的一致性。以下变量的差异可能会影响结果，而与材料本身的实际变化无关：

• 观看距离；;
• 采样位置；;
• 图像分辨率；;
• 缩放；;
• 灯光;
• 分析方法；或
• 颗粒尺寸可见性。.

使用 图像采集和采样指南 帮助设计可重复的抽样方案。.

选择您需要跟踪的内容

不要仅仅因为数据唾手可得就去收集。在建立基准线或开始对比研究之前，请先确定哪些 WipFrag 结果对决策真正重要。有用的指标可能包括：

• D50 或 D80；;
• 另一个特定于应用的 D 值；;
• 达到规定尺寸的百分比；;
• 超过超大阈值的百分比；;
• 选定尺寸范围内的材料；;
• 均匀系数；;
• 球形度；;
• 颜色标识；;
• 规格状态；或
• 另一个已定义的站点或流程 KPI。.

选择与流程、产品、研究或运营目标直接相关的指标，然后在整个比较过程中始终如一地使用这些指标。.

建立基线

一旦选定了重要的测量指标，就应先确定其正常范围，然后再用它们来判断过程变化。.

单次比较即可表明两个样本存在差异。而在正常运行条件下采集的一系列具有代表性的测量数据则能提供更有力的证据。.

在实际可行的情况下，通过收集正常运行条件下的若干代表性分析数据来建立基线。.

然后跟踪对应用程序至关重要的结果，例如：

• D50；;
• D80；;
• 高于或低于工艺阈值的百分比；;
• 均匀系数；;
• 球形度；;
• 规格状态；;
• 颜色标识；或
• 另一个特定于站点的关键绩效指标。.

这样更容易区分正常波动和有意义的过程变化。.

记住

趋势通常比孤立的数字更有用。.

10. 校准、细则和测量限度

WipFrag 结果必须始终在用于创建该结果的图像和采样的范围内进行解释。.

WipFrag 只能测量已呈现的内容。

该图表并没有添加样本中不存在的信息。.

如果图像未能充分展现：

• 最大的颗粒；;
• 最小的颗粒；;
• 样品中分离出来的一部分；或
• 材料的另一重要部分是：,

PSD可能无法完全代表全部材料群体。.

精彩的结局

细颗粒物的检测尤其依赖于图像分辨率和可见度。.

如果在原始图像中无法区分单个粒子，则无法直接从该图像中测量它们。.

对于较宽的粒径分布，应酌情使用其他更近距离的图像，而不是期望一张宽图像能够分辨出所有相关的粒径。.

这 缩放合并 该方法可以将不同尺度的观测分析结果结合起来，更好地代表广泛的分布。.

缩放合并

缩放合并功能将不同观测尺度下的分析结果结合起来。较宽的图像代表较大的颗粒，而较近的图像则能更好地显示较窄图像分辨率不足的较小颗粒。.

然后可以将结果合并，以便在材料包含多种尺寸的颗粒时提供更具代表性的粒径分布。.

相对结果与校准结果

即使没有校准，只要采样和分析方法保持一致，WipFrag 结果对于比较测量也很有价值。.

例如，重复分析可以显示某种材料是否具有流行趋势：

• 较粗糙；;
• 更精细；;
• 更广泛；;
• 较窄；;
• 或多或少是细长的；或者
• 朝向或远离作战目标。.

对于许多监测应用而言，测量方法的一致性是趋势分析有用性的关键。.

当需要使 WipFrag 结果与物理筛分参考更紧密地对应时，校准就变得非常重要了。.

校准

可以使用以下方法校准 WipFrag 结果： Swebrec, 罗辛-拉姆勒 或者 xP-Fan 模型。.

罚款目标

xP-Fan 校准是 仅适用于爆炸碎片 结果。用户需要为待分析的图像样本选择高、中或低精细度。生成的 xP-Fan 方程将显示在图表上。.

筛子靶

使用 Swebrec 或 Rosin-Rammler 进行筛分校准需要：

• 实际筛分结果 从材料中；以及
• WipFrag 分析 同一种材料 那是过筛过的。.

然后可以利用筛分和图像分析数据，通过可用的校准模型计算校正值。.

使用校准时

• 长期结果需要与物理筛分参考值相符；;
• 已建立可重复的生产应用；;
• 有代表性的筛分数据可供参考；或者
• 需要将基于图像的结果调整为公认的物理参考方法。.

切勿使用校准来弥补采样不足的问题。

校准无法修正原本就未能真实反映材料的图像。.

良好的采样和图像采集仍然是首要的。您可以阅读以下内容： 图像采集和采样指南 在分析过程开始之前，这是一个良好的起点。.

重要的

抽样决定了所代表的物质种类。校准则调整了测得的分布与参考值之间的关系。. 它们解决的是不同的问题。.

11. 将WipFrag结果转化为决策

WipFrag 结果的目的不仅仅是生成 PSD 曲线。.

利用输出结果回答已定义的操作或技术问题。.

这种材料是变得更粗糙还是更细腻了？

比较：

• D50；;
  • D80；;
  • 其他相关的D值；以及
  • 整体功率谱密度曲线。.

不要仅仅依赖一个百分位数，因为整个分布情况才是关键。.

有多少物料低于工艺阈值？

使用 通过率 尺寸合适。.

例如，如果工艺极限为 75 毫米，则可直接从曲线或直方图中确定通过 75 毫米的百分比。剩余的百分比则大于该尺寸。.

超尺寸的程度如何？

将超大尺寸阈值定义为相关的尺寸等级。.

使用高于该阈值的百分比，而不是仅仅依赖于 Xmax 或者测量到的最大颗粒。.

Xmax 它告诉你的是测量到的最大颗粒的大小；它并不能告诉你有多少超大尺寸的物质存在。.

如果单个超大颗粒的数量和位置很重要，除了百分比结果外，还可以使用编辑辅助功能。.

分布是变得越来越均匀还是越来越不均匀？

审查：

• PSD曲线的形状；;
• 直方图；以及
• 松香-拉姆勒 n 价值。.

更高 n 表明粒径分布范围较窄。.

结果是否达到运营目标？

使用 规格范围.

这样就可以直接比较测量得到的 PSD 与定义的最小和最大合格限值。.

颗粒形状是否发生了变化？

在一致的采样和分析条件下比较球形度。.

酌情查看各尺寸等级的平均结果和球形度。.

与颜色相关的物质正在发生变化吗？

如果已为应用程序特意配置了颜色 ID，请比较与已定义颜色配置文件匹配的百分比。.

粗颗粒是否集中在样品的某一部分？

使用：

• 纯色；;
• 超大高亮显示；;
• 原始图像；以及
• 如有空间结果，请提供。.

这有助于区分整体粗糙的样品和局部粗糙区域。.

造成这种结果的原因是什么？

WipFrag 测量所得材料的特性。.

PSD 可以显示材料变成了：

• 较粗糙；;
• 更精细；;
• 更广泛；;
• 较窄；;
• 更细长；;
• 较短；或
• 颜色不同。.

它本身并不能确定原因。.

要确定结果发生变化的原因，请将 WipFrag 数据与相应的上下文进行比较，例如：

• 钻爆记录；;
• 地质学;
• 破碎机设置；;
• 屏幕配置；;
• 进料速率；;
• 工艺条件；;
• 材料来源；或
• 其他运行数据。.

记住

先测量，后诊断。. 使用 WipFrag 确定发生了哪些变化，然后使用相关的运行信息调查原因。.

12. 无人机分析的空间结果

根据目标解读热图

热图颜色表示所选结果的相对差异。.

对于颗粒尺寸输出，较暖的颜色通常代表较大的值，较冷的颜色代表较小的值。.

对于其他测量，颜色关系取决于所选结果。.

不要想当然地认为视觉上感觉冷或热的区域就一定是好或坏。.

例如，在某些应用中，较大的颗粒尺寸可能是不理想的，而在另一些应用中，较大的颗粒尺寸则是可以接受的或预期的。.

使用热图来识别 其中值不同, 然后根据操作目标和抽样背景来解释这些差异。.

利用空间结果研究变异性

空间分析结果有助于识别：

• 粗粒或细粒带；;
• 爆炸过程中均匀性的变化；;
• 具有不同表观颗粒形状的区域；;
• 颜色相关的变异；或
• 应根据钻探、爆破、地质或工艺信息进行审查的位置。.

热力图有助于定位差异点，但它本身并不能解释差异的原因。.

WipFrag 结果快速参考

从曲线开始

• 这个结果代表的是什么材料或样品？
• 我究竟要做出什么决定？
• PSD文件的位置是否基本符合我的预期？
• 是否有明确的目标、基线或先前的结果进行比较？

检查钥匙尺寸

• D50： 50% 通过尺寸。.
• D80： 80% 通过尺寸。.
• 其他D值 – 使用对应用至关重要的百分位数。.
• Xc:  罗辛-拉姆勒特征尺寸；相当于 D63.2。.
• X50: Swebrec 50% 通过尺寸；相当于 D50。.
• Xmax:  测量到的最大颗粒/Swebrec最大尺寸。.

检查分布情况

• n:  分布范围是变窄了还是变宽了？
• 直方图：  该材料适用于哪些尺寸范围？
• 直方图宽度：  分布是集中分布还是分布范围很广？
• 细尾/粗尾：  两端是否有大量物质残留？
• 及格率：  低于运行阈值多少？
• 保留率：  所选尺寸范围内有多少比例的商品？

超大尺寸

• 对于此应用而言，超大尺寸的定义是什么？
• 超过该阈值的百分比是多少？
• 有多少个粒子超过了阈值？
• 这些颗粒是孤立的还是广泛分布的？
• 最大的粒子是否已被正确界定？

查看其他尺寸

• 球形度：  颗粒的形貌是否发生了变化？
• 通过直方图分析球形度：  颗粒大小会影响形状吗？
• 颜色编号：  用户自定义颜色比例是否已更改？
• 覆盖率/颗粒：  支持性分析统计数据是否合理？

与目标进行比对

• 是否有规格说明？
• 曲线与目标范围的交点在哪里？
• 区别在于细、中还是粗？

检查测量结果

• 这些图片具有代表性吗？
• 重要粒径的颗粒是否可见？
• 是否应该合并几项分析？
• 这是相对比较还是需要校准？
• 如果需要校准，是否有合适的筛分数据？
• 是否需要将结果与工艺数据、地质数据或爆破数据进行比较？

寻找趋势

• 是否存在正常运行的基准线？
• 这个结果是否超出正常波动范围？
• 这种变化在多项分析中都持续存在吗？
• 样本采集方法是否相同？

记录结果

• 导出所需的 PDF、PNG、CSV 或 ANA 文件。.
• 保留样本标识和操作上下文与结果一致。.
• 为了便于日后比较，请使用一致的命名方式。.

更多信息

有关图像采集、采样和缩放的指导，请参阅 图像采集和采样指南. 所有软件控制和配置均请参考最新版本。 WipFrag 用户手册.