WipWare 技术专家 Blessing Taiwo 于 2026 年 11 月 5 日重返安大略省萨德伯里举行的加拿大矿物加工商协会 (CMP) 中安大略会议暨年会，介绍了通过光学碎片分析测量细颗粒所面临的挑战的研究。
他的演讲， PSD测量中的碎片大小分离和细颗粒堵塞：过去、现在和未来, 研究了颗粒分离和隐藏细颗粒如何影响粒度分布 (PSD) 结果，以及校准方法如何提高光学测量和实验室筛分分析之间的一致性。
本次会议汇聚了矿物加工专业人士、顾问、研究人员和技术提供商，进行了一天的技术演讲、行业讨论和交流活动。
了解粒度测量中的隐性细颗粒
光学破碎分析为评估采矿和矿物加工作业中的颗粒尺寸分布提供了一种实用方法。然而，一个重要的局限性在于，基于图像的测量主要反映的是可见的物料表面。
Blessing 的报告探讨了可能影响较小颗粒测量的两个挑战：图像分辨率不足和颗粒遮挡。
当较小的颗粒被较大的碎片遮盖在下方或之间时，就会发生包裹现象。物料的运动和振动也会造成粒径分异，较大的颗粒会向表面迁移，而较小的物料则会向下移动。这种现象通常被称为…… 巴西坚果效应, 可能导致可见表面分布与整体材料分布不同。
在测量传送带上的物料、料堆中的物料以及整个破碎和处理操作过程中的物料时，这些影响尤为重要。
本次演讲的主要内容
- 可见粒子并不总是能代表完整的粒子尺寸分布。 光学测量受粒子可见性、图像分辨率和材料物理排列的影响。
- 种族隔离会影响结果。 振动、搬运和物料移动可能会按尺寸重新分布颗粒，从而造成表面测量值与散装物料之间的差异。
- 实物取样仍然非常重要。 实验室筛分分析和代表性带切样品为评估和校准光学测量结果提供参考数据。
- 校准可以提高不同方法之间的一致性。 基于参考的数学模型可以解释那些无法直接观察到的细微差别，有助于在合适的应用条件下产生更具代表性的估计分布。
该报告还回顾了 PSD 校准模型的发展，包括 Rosin-Rammler 和 Swebrec 分布以及最新的 xP-fan 模型。
通过几个对比示例，Blessing 展示了校准如何使基于图像的粒度分布曲线更接近实验室筛分结果。例如，未经校准的图像分析结果显示，粒径为 1.5 mm 的颗粒通过率为 24.7%，而筛分分析结果为 45.6%。校准后，估计的通过率为 45.2%。
这些对比结果强调了选择合适的测量方法、获取具有代表性的参考样品以及了解每种方法的局限性的重要性。校准有助于估算那些无法直接观察到的物质，但它并不能取代对这些颗粒的物理测量。
行业视角与合作
除了自己的演讲之外，布莱辛还参加了技术会议，探讨了各种矿物加工方面的挑战和发展。
从报告中涌现出的一个有趣主题是矿物加工企业与外部技术专家之间的合作关系。许多生产基地与工程顾问、研究人员和技术供应商密切合作，共同研究工艺难题、评估性能并实施改进措施。
这些合作关系将现场人员的实践经验与来自整个行业的专业知识相结合。
对布莱辛而言，这些演讲让他深入了解了如何将技术知识和咨询专长应用于实际运营挑战。技术研讨会后的讨论环节也提供了交流观点和与其他行业专业人士建立联系的机会。
会议以晚间招待会和晚宴圆满结束，让与会者有机会在正式演讲之外继续交流并建立联系。
WipWare 感谢安大略省中部 CMP 的组织者和参与者们再次提供机会，分享技术知识，向业内同行学习，并为有关矿物加工未来的讨论做出贡献。
如需了解演示文稿中讨论的测量注意事项的更多信息，请浏览 WipWare 的相关内容。 了解输送带分析中的尺寸范围 指导。
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