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作者：Paul Chivers 光分析系统数据可用于过程控制或无需校准即可跟踪相对变化。但是，如果您的目标是取代手动筛分，则需要校准。下面概述的校准程序取自校准文件，该文件在登录客户后可供光分析系统用户使用 [...]

WipWare 举办的 2014 年矿坑到选矿厂培训研讨会座无虚席，吸引了来自世界各地的采矿专业人士参加。研讨会内容包括破碎、爆破、矿山到选矿厂优化以及实践技术培训方面的专家演讲。.