加拿大矿业名人堂表彰采矿业的杰出成就,表彰个人领导力,并旨在激励后代的采矿业。
WipWare Inc 总裁 Tom Palangio 入选矿业名人堂。 SAMSSA 于 12 月 5 日在萨德伯里的 Dynamic Earth 上颁发了该奖项。 15 年后,Tom 决定从 SAMSSA 总裁的职位上退休。 SAMSSA 昨晚在 SAMSSA 年度股东大会上向他致敬。
从卑微的开始成就伟大的事情
Thomas Palangio,首席技术官 WipWare 在入职仪式上发言,并有幸介绍了他的父亲汤姆。托马斯谈到了汤姆早年的生活,包括他的学术成就和早期的职业生涯。演讲全文可在 这里 .
汤姆的故事始于一对意大利移民选择安省北部为家。 1965 年,汤姆搬到安大略省南部,涉足电气和机械工程。此外,在那里他遇到并娶了他的妻子菲利斯。最终,他完成了建筑设计的教育并返回安大略省北部。
当杜邦有机会时,他接受了,于是开始了与炸药的恋情。在 Dupont(后来的 ETI)工作了 27 年后,他成为了技术专家。他很快意识到测量爆炸可能是采矿业有利可图的利基市场。 1986 年,Tom Palangio 与 John Franklin 和 Norbert Marez 合作创建了滑铁卢图像增强过程或 WIEP。 John 和 Norbert 在滑铁卢的地球和计算机科学部门工作。认识到他们的发现的重要性和销售潜力,三人成立了 WipWare,以进一步开发和在国际上推广这项技术。
上图:Dick DeStefano——老朋友兼同事祝贺 Tom Palangio 获奖。
汤姆取得了一些飞跃
在汤姆入选矿业名人堂之前,休·克鲁泽尔写了一篇专题文章 SAMSSA 文章 10 月 17 日。在这篇文章中,休与汤姆谈论了汤姆作为企业家和创新者所取得的飞跃。
当休问汤姆他的童年时,汤姆解释了他是如何喜欢建造东西的。
“当太空成为新闻时,我总是被艺术、机械、电气和科学主题所吸引。我是一个真正的婴儿潮一代。我喜欢建造东西并将它们拆开并且足智多谋,但从没想过我会以玩我感兴趣的东西谋生。莱昂纳多·达·芬奇将是我的历史英雄。我的老师说我是“破坏性的”,我花了很多年才意识到这是一件好事”。
图像分析技术 – 采矿业
1995 年,Tom 创办了 Topex Inc——他自己的炸药咨询公司。后来,他成立了 WipWare Inc. 进行商业营销和销售 图像分析技术 这改善了爆炸碎片的结果。
“炸药业务‘蓬勃发展’,接下来几年我在秘鲁、智利、南非、澳大利亚和香港工作,提供培训、故障排除、爆炸设计、振动控制、高速摄像机工作和其他专业服务。”
WipWare Inc. 总裁兼首席执行官 Tom Palangio
汤姆一直相信的一件事——指导商业界的新人,因为这会创造新的工作岗位,他试图参与支持这一点的组织。在担任 SAMSSA 主席 15 年后,Tom 决定退休。
3D 打印的单独原型
Tom 在采矿和炸药行业拥有超过 40 年的经验,拥有超过 22 年的企业家经验,并获得了各种奖项和认可,包括:2003 年 NOBA 年度企业家奖; 2001年和2002年出口发展奖; 2003年省级全球贸易商奖类别的安大略省领导奖; 2009年OACETT杰出技术成就奖; 2013 年被 PROFIT 500 评为加拿大成长型公司前三分之一,并于 2015 年获得北安大略商业创新奖。
WipFrag
O-Pitblast 演示 WipFrag 软件
Kim Coyle •
11 月 16, 2017
在整个11月13日至17日这一周, O-成岩 一直在演讲 冲击波大学 关于无人机的使用。重点是爆炸和地形控制。额外的培训是关于通过照片分析、爆破设计和爆破优化进行的碎片控制。作为讲座的一部分,O-Pitblast 技术服务总监 Francisco Leite 使用了 WipWare 的 WipFrag 软件。该软件非常适合演示 Blast 优化和碎片分析。
学生们有很好的机会了解 WipWare 的碎片分析软件如何实现对数字图像的即时 PSD 分析。一位幸运的学生将免费获得完整版的 Windows 版 WipFrag,以参加研讨会。
再次感谢Francisco Leite提供这次机会向Blaster大学的学生展示我们的WipFrag软件。
公司
Rob Farnfield 博士在 WipWare 捣毁了一些石头
Kim Coyle •
10 月 11, 2017
Rob Farnfield 博士,炸药工程主管 EPC-英国 砸了一些石头 WipWare 10 月 10 日至 11 日。 Tom 和 Thomas Palangio 与 Rob 进行了愉快的访问,带他参观了设施并讨论了未来的机会。
WipWare 重视我们与全球采矿业企业和商业领袖的许多持续关系。像 Rob 这样的关系帮助 WipWare 成长并继续成为光学粒度测量的行业领导者。
我们期待继续并扩大与 Rob Farnfield 博士的关系。
专题会议
矿业与技术 – Tom Palangio 参加 2017 年 10 月 2 日至 4 日的会议
Kim Coyle •
10 月 10, 2017
汤姆·帕拉吉奥出席 矿业与科技 2017 年会议在安大略省多伦多举行。会议参加人数众多。汤姆是“采矿文化和转型挑战”的会议主席,并在围绕文化和思维方式创新的会议上主持了小组讨论。参加该小组的是 Neil Clegg,副总裁 VIR 电气公司 ; Peter Kondos,战略技术解决方案高级总监 巴里克黄金公司 和 Nathan Stubina,董事总经理 麦克尤恩矿业 .
汤姆·帕兰吉奥和安德鲁·里斯
上周在多伦多举行的矿业和技术活动是从从事创新的人们那里了解采矿创新的理想场所。 Wipware 总裁 Tom Palangio 与全球行业经理 Andrew Reese 合照。和 恩德斯 + 豪瑟 来自瑞士。 Mines and Technology 2017 重点关注对下一代矿山至关重要的一系列主题领域,尤其是矿山的数字分析、数据和跟踪系统领域;机器人技术在未来运营中的作用以及创新对废物和资源管理的重要性。
作者:保罗·奇弗斯
爆炸预测是一项棘手的业务。变数很多,总有未知数。实现理想的碎片化对于控制许多操作的成本至关重要。
BlastCast 是最近作为 WipWare 备受推崇的 WipFrag 软件的免费增强而推出的爆炸碎片预测模块,它是另一种帮助客户解决碎片问题的工具。 Blast Cast 与 WipFrag 数据结合使用,可帮助您预测碎片并将碎片向所需方向移动。
您首先输入特定爆炸的参数。 BlastCast 将在粒度分布图中预测产生的碎片。下一步是使用 WipFrag 软件测量产生的碎片以确定实际碎片。将结果拖入 BlastCast 窗口,将实际碎片叠加到预测碎片上。现在您可以调整 Rock Factor 滑块,将预测曲线移向实际碎裂曲线。
校准模型后,您可以使用其他爆炸参数滑块进行试验,以查看更改间距可能会如何影响碎片或其他情况。您使用 BlastCast 的次数越多,它就越准确。
BlastCast 模块中各种滑块的解释如下:
默认情况下,BlastCast 接受在 WipFrag 输出选项中设置的任何大小类。
公制/英制单选按钮: 选择首选的测量单位。
KCO 模型 – Kuz-Ram 模型单选按钮: 在基于 Swebrec 函数的包含三个参数 xmax、x50 和 xB 的 KCO 模型 (Kuznetsov-Cunningham-Ouchterlony) 或包含两个参数 xc 和 N 的 Kuz-Ram 模型 (Kuznetsov-Ramler) 之间进行选择罗辛-拉姆勒函数。
爆炸值复选框: 大部分时间离开。锁定界面的顶部。取消选中时会锁定界面的底部。
负担: 钻孔与工作面之间的距离。
间距: 钻孔排之间的距离。
直径: 钻孔直径。
钻孔精度: 通常是钻井设备的功能;考虑曲折、转弯和偏转。通常是一个相对较低的数字并且通常是恒定的。
工作台高度: 工作台或面部高度。
密度:从炸药制造商的 Blasters 表/指南中获得规格 (gm/cc)。
岩石因素:最难确定的因素;包括绑定在一起的 6 或 7 个参数,包括弹性和原位关节平面的模块。
相对重量强度:表示炸药与标准 ANFO 相关的威力,相对重量强度为 1.00。从炸药制造商处获取规格。
作者:保罗·奇弗斯
光分析系统数据可用于过程控制或无需校准即可跟踪相对变化。但是,如果您的目标是取代手动筛分,则需要进行校准。下面概述的校准程序取自校准文档,在登录 WipWare 网站下载部分的客户下载区域后,该文档可供光分析系统用户使用。
校准是系统安装的最后一步,只有在所有硬件和软件调整都已表征后才能进行。这些包括机械设置;光学调整;比例设置;触发设置;图像质量设置和边缘检测参数。如果这些变量中的任何一个发生变化,系统将需要重新校准。
第1步: 停止带(执行紧急停止)
一旦系统被表征并且过程正常运行,校准就可以开始。请注意,校准仅在材料不受与正常生产无关的外部变量(即,传送带速度较慢、部分流程关闭等)影响时才有效。
第2步: 图片素材
在 Delta 中,捕捉材料的图像。将图像另存为“校准 1.bmp”并关闭它。在可视区域的材料顶部放置一个比例参考(标尺、卡片、纸……已知尺寸)。在 Delta 中,捕捉另一张图像并将其保存为“Scale 1.bmp”,然后再关闭。
第 3 步: 取材过筛
在 Delta 中,打开实时图像视图。找到并标记皮带上可见材料的上限和下限。取出整个样品进行筛分。请勿使用圆锥、四等分或修整。整个样品必须过筛。
第四步: 重新启动皮带和筛子
所有信息都已收集完毕,您的流程可以重新启动。在进行下一步之前筛分材料。
第 5 步: 设置比例因子
在 Delta 中,打开“Scale 1.bmp”并使用已知长度的比例参考设置比例。由于图像是从文件打开的,因此请确保将“源”设置为“图像文件”。关闭“比例 1.bmp”。
第 6 步: 设置 EDP
打开“校准 1.bmp”。打开选项菜单以进入“边缘检测参数”选项卡,并记下为您正在校准的相机(即相机 1)选择了哪个 EDP 预设。将“源”更改为“图像文件”并选择与上一步相同的 EDP 预设。
第 7 步: 设置尺码等级
选择“输出”选项卡并记下为您正在校准的相机选择了哪个尺寸等级预设。将“源”更改为“图像文件”并选择与上一步相同的大小类预设。确保没有选择校准预设。点击应用和确定以保存您的更改。
第 8 步: 获取 Delta 值
点击“生成网络”按钮。点击“筛分”按钮。请注意以下值:n、Xc、b、Xmax、X50。将图表另存为“Delta 1.bmp”。
第 9 步: 将数据输入校准表(见右图)
只在蓝色方块中输入数据:
1. 在“尺寸”下,输入您的尺码等级(最大的在顶部)。
2. 在“重量”下,输入每个筛子/盘的重量。
3. 下一栏“保留的重量 %”将自动完成,如果正确完成,底部的总数应为 100%。
4. 将您之前从 Delta 记录的“Xmax”、“X50”、“b”、“n”和“Xc”值输入到相应的蓝色框中。
第 10 步: 计算调整因子(见右图)
启用宏后,点击“CALIBRATE Swebrec Function”和“CALIBRATE Rosin Rammler”按钮。 Swebrec 计算非常快。 Rosin Rammler 函数可能需要更长的时间。完成这两个功能后,请注意“推荐的分配方法”。如果显示为“SF”,请使用 Swebrec 调整系数。如果显示为“RR”,则使用 Rosin Rammler 调整因子。
第 11 步: 在 Delta 中输入调整因子
在 Delta 中,进入选项菜单并选择“输出”选项卡。在校准下拉菜单中选择“校准预设”。如果您愿意,您可以重命名此预设。根据校准表推荐的内容选择“R-R”或“Swebrec”。输入您从校准表中记录的调整因子。点击应用/确定并让系统重新联机。
系统现已校准!
所有步骤都已完成,校准后的相机现在将输出校准数据。